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PAUT系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)環(huán)焊縫和縱焊縫的檢測，能夠同時實(shí)現(xiàn)A掃描、TOFD灰度圖像B掃描和相控陣S掃描成像。使用PA檢測方法彌補(bǔ)了TOFD檢測時產(chǎn)生的上下表面盲區(qū)的不足，直觀的反應(yīng)出表面及內(nèi)部的埋藏缺陷的形態(tài)。
相控陣檢測的優(yōu)勢：
1. 成像直觀
2. 檢測效率高
3. 可以存儲檢測記錄
4. 可檢測大壁厚零件覆蓋上下表面盲區(qū)C掃描成像，并可快速知道缺陷步進(jìn)方向的位置檢測除焊縫以外的其他復(fù)雜形狀零件，對氣孔類缺陷檢出率較高，同時對焊帽里面的缺陷也可以檢出該系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)TOFD和PA相結(jié)合的掃查檢測，該系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)A/B/C/S掃查圖像，檢測可以實(shí)時保存，便于后續(xù)查驗(yàn)審核。